摘要: 本文为组合数字电路测试码的生成提出了一种新算法。它把四值*算法推广到电路的九值模型上,证明了四值*算法中的所有高次*项组合,均包括在本算法的单*项中,从而得到了单故障测试码生成的线性化结果。即使遇到需同时敏化多个通路才能求得测试码的情况,也只要计算单*项即可。因此有m个通路的单故障,最坏情况时,不必计算2~m-1种组合,只计算m个单*项。